单腔时序式 ALD 研发平台,最大适配 φ200mm 晶圆,面向新材料工艺开发与薄膜机理研究。标配热 ALD 工艺,可选配远程感应耦合 ICP 等离子体系统,实现等离子增强 PEALD 沉积,可广泛应用于半导体、钙钛矿、光学涂层、功能薄膜等多领域研发验证。
根据您的先进封装需求定制的ALD 解决方案
专为先进封装中的导电通孔、绝缘层和种子层而设计
精确控制和高度均匀性有助于减少缺陷并改善先进封装创新和生产
支持更小尺寸、更多层级的先进封装设计,助力技术迭代
原子层控制以满足微米和纳米级沉积需求
高密度、高保形涂层,实现均匀、可靠的覆盖
1. 远程立式感应耦合构架,石英电离腔和工艺腔上下分隔布置
2. 电离腔 RT~200℃ 独立加热,控温精度 ±1℃;对接法兰内置水冷循环,保护密封件
3. N₂/ Ar/ O₂/ H₂/ NH₃ 等气源可选,采用隔膜阀 + 质量流量计精准控制流量
4. 13.56MHz 射频电源,额定功率 1.5kW,功率不稳定性 ≤2%,配套自动阻抗匹配单元
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