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TALD-200 时间型原子层沉积系统

单腔时序式 ALD 研发平台,最大适配 φ200mm 晶圆,面向新材料工艺开发与薄膜机理研究。标配热 ALD 工艺,可选配远程感应耦合 ICP 等离子体系统,实现等离子增强 PEALD 沉积,可广泛应用于半导体、钙钛矿、光学涂层、功能薄膜等多领域研发验证。

核心技术优势

  • 分区精准控温:全程独立伴热,抑制前驱体冷凝吸附,保障沉积均匀性与批次重复性
  • 全类型前驱体兼容:覆盖常温 / 液态 / 固态源,多反应路径适配多元薄膜体系
  • 时序精细可控:脉冲、吹扫参数可调,支持连续 / 脉冲沉积,适配工艺机理研究
  • 模块化灵活扩展:可拓展 PEALD、粉末沉积、原位监测等模块,满足多元研发场景
  • 研发友好型设计:单腔紧凑结构,拆洗维护便捷,提升研发调试效率

产品优势

定制化程度高

定制化

根据您的先进封装需求定制的ALD 解决方案

TGV-CGV

TGV/TSV工艺

专为先进封装中的导电通孔、绝缘层和种子层而设计

效率更高

良率更高

精确控制和高度均匀性有助于减少缺陷并改善先进封装创新和生产

具有前瞻性,助力技术迭代

前瞻性

支持更小尺寸、更多层级的先进封装设计,助力技术迭代

高精密

高精密

原子层控制以满足微米和纳米级沉积需求

高质量

优质

高密度、高保形涂层,实现均匀、可靠的覆盖

技术参数

设备型号 TALD-200
温控系统 衬底 RT~350℃,腔壁、气路 RT~200℃ 分区独立控温
前驱体系统 最大支持 5 路前驱体源,支持 H₂O 氧化反应
可选 ICP 等离子体系统

1. 远程立式感应耦合构架,石英电离腔和工艺腔上下分隔布置

2. 电离腔 RT~200℃ 独立加热,控温精度 ±1℃;对接法兰内置水冷循环,保护密封件

3. N₂/ Ar/ O₂/ H₂/ NH₃ 等气源可选,采用隔膜阀 + 质量流量计精准控制流量

4. 13.56MHz 射频电源,额定功率 1.5kW,功率不稳定性 ≤2%,配套自动阻抗匹配单元

其他可选配置 臭氧发生器、粉末旋转沉积模块、原位晶振膜厚监测仪

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